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    SiO2钝化层对GaN基PIN结构核探测器漏电流的影响

    论文编号：
    第一作者所在部门：
    论文题目英文：
    作者： 袁愿林; 姚昌胜; 王果; 陆敏
    论文出处：
    刊物名称： 固体电子学研究与进展
    年： 2012-4-25
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